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超聲波探傷缺陷長度測定方法
日期：2025-12-17 16:26
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摘要：超聲波探傷缺陷長度測定方法
超聲波探傷缺陷長度測定方法
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在超聲波探傷中，當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)，一般采用測長法來確定缺陷的長度。 測長法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動距離來確定缺陷的尺寸。按規(guī)定的方法測定的缺陷長度稱為缺陷的指示長度。由于實(shí)際工件中缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)等都會影響缺陷回波高度，因此缺陷的指示長度總是小于或者等于缺陷的實(shí)際長度。 根據(jù)測定缺陷長度時(shí)的靈敏度基準(zhǔn)不同將測長法分為相對靈敏度法、優(yōu)良靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。 1、相對靈敏度測長法 相對靈敏度測長法是以缺陷*高回波為相對基準(zhǔn)、沿缺陷的長度方向移動探頭，降低一定的dB值來測定缺陷的長度。降低的dB值有3dB、6dB、12dB、20dB等幾種。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。 （1）6dB法（半波高度法）：由于波高降低6dB后正好為原來的一半，因此6dB法又稱半波高度法。 半波高度法的具體做法是：移動探頭找到缺陷的*大反射波（不能達(dá)到飽和）然后沿缺陷方向左右移動探頭，當(dāng)缺陷波高降低一半時(shí)，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長度。 6dB法的具體做法是：移動探頭找到缺陷的*大反射波后，調(diào)節(jié)衰減器，使缺陷波高降至基準(zhǔn)波高。然后再用衰減器將儀器靈敏度提高6dB，沿缺陷方向移動探頭，當(dāng)缺陷波高降至基準(zhǔn)波高時(shí)，探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長度，如（圖一）所示。  圖一、半波高度法(6dB法) 半波高度法(6dB法)是用來對缺陷測長較常用的一種方法。適用于測長掃查過程中缺陷波只有一個(gè)高點(diǎn)的情況。 （2）端點(diǎn)6dB法（端點(diǎn)半波高度法）：當(dāng)缺陷各部分反射波高有很大變化時(shí)，測長采用端點(diǎn)6dB法。 端點(diǎn)6dB法測長的具體做法是：當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷后，探頭沿著缺陷方向左右移動，找到缺陷兩端的*大反射波，分別以這兩個(gè)端點(diǎn)反射波高為基準(zhǔn)，繼續(xù)向左、向右移動探頭，當(dāng)端點(diǎn)反射波高降低一半時(shí)（或 6dB時(shí)），探頭中心線之間的距離即為缺陷的指示長度，如（圖二）所示。  圖二、端點(diǎn)6dB法測長 這種方法適用于測長掃查過程中缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。 半波高度法和端點(diǎn)6dB法都屬于相對靈敏度法，因?yàn)樗鼈兪且员粶y缺陷本身的*大反射波或以缺陷本身兩端*大反射波為基準(zhǔn)來測定缺陷長度的。 2、優(yōu)良靈敏度測長法 優(yōu)良靈敏度測長法是在儀器靈敏度一定的條件下，探頭沿缺陷長度方向平行移動,當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定位置時(shí)，如（圖三）所示B線，探頭移動的距離，即為缺陷的指示長度。  圖三、優(yōu)良靈敏度測長法 優(yōu)良靈敏度測長法測得的缺陷指示長度與測長靈敏度有關(guān)。測長靈敏度高，缺陷長度大。在自動探傷中常用優(yōu)良靈敏度法測長。 3、端點(diǎn)峰值法 探頭在測長掃查過程中，如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)時(shí)，則可以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動長度來確定為缺陷指示長度，如（圖四）所示。這種方法稱為端點(diǎn)峰值法。  圖四、端點(diǎn)峰值測長法 端點(diǎn)峰值法測得的缺陷長度比端點(diǎn)6dB法測得的指示長度要小一些。端點(diǎn)峰值法只適用于測長掃查過程中，缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。 |